密封试验仪实验过程中泄露的常见原因及解决办法

更新时间：2017-07-20

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密封试验仪实验过程中泄露的常见原因及解决办法

作者：济南精基

包装袋泄露常见原因及解决办法（由MFY-3密封试验仪进行检测的结果）

原因	泄露情况	解决办法
薄膜原因：太厚；抗压穿性差；爽滑剂太多或有异物；薄膜本身有漏点；	压穿，漏封；压穿；漏封；	清洁、调换所用薄膜
热封模具原因：粗糙、有棱角与袋形状、大小不匹配上下模具不平行	压穿压穿、漏封压穿、漏封	修理热封模具，调整设备平行度
工艺原因：热封压力太大；热封压力太小；热封温度太高；热封温度太低；热封时间太长；热封时间太短；	压穿漏封压穿漏封压穿漏封	更改相应压力、温度和速度参数
内容物污染封口部位	漏封	调整设备参数，防止内容物污；使用抗污染物薄膜